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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging Series)
4,0 (3 Bewertungen bei Amazon)
- Marke:
- CRC Press
- Hersteller:
- Taylor & Francis Inc
- Ausführung:
- Gebundene Ausgabe
- Erschienen:
- 01.04.1997
- Produktgruppe:
- Buch
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Produktbeschreibung / Highlights:
Technische Daten
- Marke
- CRC Press
- Hersteller
- Taylor & Francis Inc
- Ausführung
- Gebundene Ausgabe
- Erschienen
- 01.04.1997
- Produktgruppe
- Buch
- Breite
- 1,9 cm
- Höhe
- 27,3 cm
- Länge
- 19,1 cm
- Gewicht
- 953 g
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